X-線回折期正確度画期的向上

X-선 회절기 정확도 획기적 향상

| 기사입력 2011-11-14 20:21 표준연, 1만분의1㎜ 수준까지 측정 인증표준물질 개발

한국표준과학연구원 김용일 박사팀은 물질의 종류를 파악하는데 활용되는 X-선 회절기의 정확도를 1만분의1㎜ 수준까지 높일 수 있는 인증표준물질을 개발했다고 14일 밝혔다.

X-선 회절기는 사람의 지문처럼 물질의 고유 원자배열을 측정해 물질의 종류를 파악하는 장비다. X-선 회절기는 주기적인 교정을 통해 측정 정확도를 유지해야 하나, 교정을 위해 사용하는 표준물질이 없어 측정결과의 신뢰성을 확보할 수 없었다.

이번에 개발된 인증표준물질은 덩어리 형태의 실리콘을 `제트밀(Jetmill)" 분쇄기로 1만분의1㎜까지 잘게 쪼개 이를 다시 매스 실린더를 활용해 얻어낸 입자를 1000℃ 이상의 열처리 과정을 통해 만들어 냈다.

이 인증표준물질을 X-선 회절기 교정에 활용하면 물질의 원자배열 값을 1만분의1㎜ 수준까지 정밀하게 측정할 수 있다.

연구팀은 내년부터 한국원자력연구원 하나로 센터와 포항가속기연구소 등 연구 및 시험기관, 산업체, 학교 등에 인증표준물질을 공급할 예정이며, 중국 등 아시아 국가에도 수출한다는 계획이다.

김용일 박사는 "X-선 회절기는 천안함 침몰의 원인을 규명하기 위한, 금속의 성분과 폭발의 원인 및 유형을 찾는데 활용됐다"면서 "X-선 회절기를 활용하면 정밀한 측정값을 얻을 수 있어 물질의 혼합물 및 화합물 구분은 물론 결정 내부의 변형이나 결함구조 분석, 촉매개발 등에도 활용이 가능하다"고 말했다.

대전=이준기기자 bongchu@